Máy kiểm tra khuyết tật bằng siêu âm CTS-1008

Đặc điểm nổi bật:

• -1008 Plus hỗ trợ kiểm tra TOFD sau khi kiểm tra PE thông thường, cho phép đo đạc chính xác kích thước và hình dạng khuyết tật, giúp đánh giá đặc điểm và hướng của khuyết tật.
• Tần số lấy mẫu lên tới 640MHz, độ phân dải 0.1mm, dải hiển thị bé nhất là 2mm.
• Tần số sóng âm 0.5 ~ 20MHz, độ nhạy lên tới 63dB, ở tần số thấp cho phép tăng hệ số tín hiệu/nhiễu.
• Trang bị 2 bộ mã hóa kích thước, giúp đo được chính xác vị trí khuyết tật (B-scan, C-scan, D-scan)
• Có cổng ra RF, điện trở 50 Ω
• Tự động nhận dạng tần số của Sensor đo.
• Có tính năng cảnh báo, lưu trữ liên tục và nhiều chế độ đo.
• Kích thước gọn nhẹ,
• Tích hợp sẵn API 5UE và AWS D1.1

Thông số kỹ thuật chi tiết:

• Xung truyền: xung vuông. Độ lớn và độ rộng xung có thể điều chỉnh được
• Thời gian sườn lên của xung < 10ns
• Độ rộng xung: điều chỉnh được từ 30 ~ 1000ns, bước điều chỉnh 5ns
• Điện áp xung truyền: 25 ~ 250V, bước điều chỉnh 25V
• Chế độ đo: Single, Dual
• Hệ số khuếch đại: 0.0 ~ 110.0 dB, bước điều chỉnh: 0.1, 1.0, 2.0, 6.0 dB
• Tần số lặp lại xung: 25 ~ 800Hz
• Chỉnh lưu: chu kỳ dương, chu kỳ âm và toàn chu kỳ, RF
• Tần số lấy mẫu: 160 MHz
• Dải tần: dản rộng 0.5 ~ 20MHz, dải hẹp 1.5 ~ 3MHz
• Dải động > 32 dB
• Độ chính xác tuyến tính dọc: ≤ 3%
• Độ chính xác tuyến tính ngang: ≤ 0.1%
• Độ phân dải > 36dB
• Vận tốc siêu âm: 1000 ~ 15000m/s
• Phạm vi kiểm tra: 0.0 ~ 10000mm. Phạm vi được điều chỉnh bước 0.1mm
• Độ dịch xung: -20 ~ 3000uS
• Cảnh báo: có tín hiệu cảnh báo thời gian thực bằng tín hiệu âm thanh hoặc đèn LED, ngưỡng dương và ngưỡng âm, độ sâu tối thiểu
• Probe Zero: 0 ~ 999.9 us
• Reject: 0 ~ 99%
• Điện trở của đầu ra: 50 Ω
• Đồng bộ hóa dữ liệu và chế độ đầu ra: Open Collector gate
• Mức nhiễu điện < 10%
• Cổng giao tiếp: Đầu nối sensor C6, USB, LA, RF OUT, Cổng ra mã hóa kích thước.
• Màn hình loại 5.7”, TFT, 640x480
• Nguồn cấp: Tích hợp bộ sạc bên trong máy, nguồn cấp AC 220V, Pin Lithium có thể làm việc trong vòng 6h.
• Khối lượng: 1,4Kg.